第三届中国射频识别技术发展国际研讨会圆满结束
   2008年11月4日－6 日，由科技部高新技术发展及产业化司和上海市科学技术委员会共同主办的第三届中国射频识别技术发展国际研讨会在上海召开。会议主题是“突破瓶颈、推进应用、合理发展RFID产业”。工业和信息化部信息化推进司、部科技局、国家质量监督检验检疫局等相关部门的领导以及来自国内外约300名代表出席了会议。 

    会议围绕RFID技术发展现状和发展战略、当前RFID技术发展的新成果和典型示范应用等议题，通过高峰对话、关键技术、典型应用、软件与信息平台、技术标准与测试等五个论坛广泛而深入地研讨了推进RFID产业发展之路。
　　 
    与会代表们认为，2008年是我国RFID技术与应用进入从培育期向成长期发展的关键时期，在发展中有着良好的机遇，也面临诸多挑战，若能利用RFID技术在数据采集上的优势，形成跨行业的信息服务共享平台和跨行业的开环应用，构建信息的互联互通，制定RFID应用的行业规范及标准，才能合理发展RFID产业。 

    研讨会出版了论文集，科技部曹健林副部长、上海市科委党工委陈克宏书记分别为论文集题写了序。 

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