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专业销售欧姆龙(OMRON)自动化产品
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欧姆龙(OMRON)
产品目录
欧姆龙(OMRON)
CJ1系列PLC
CQM1系列PLC
C200H系列PLC
CS1系列PLC
CVM1系列PLC
PLC(可编程控制器)
传感器
温控器
开关
时间继电器|计数器
变频器
触摸屏
开关电源
继电器
控制元器件
伺服系统
定位器|控制器
安全元器件
其他控制设备|外围设备
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欧姆龙(OMRON)
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PLC编程工具
[NS Designer] WS02-MCTCI-EV
实现屏幕创建,模拟和项目开发有效的发展过程。
NS-Designer被用来创建用于NS系列可编程终端的屏幕数据。NS-Designer也能检查计算机上创建的屏幕数据的操作。
大型PLC
(SYSMAC LINK单元)(CVM1D系列PLC) CV500-SLK
SYSMAC LINK系统是高速地进行PC与FA计算机、PC与PC间大容量数据链接的网络系统。由于能进行SYSMAC LINK相互的通信(Bridge功能)及与SYSNET、SYSMAC BUS/2这两个异机种网络进行通信(Gateway功能),因而能从上位计算机开始进行系统的集中管理。
CV500-SLK型号有:
CV500-SLK21,(同轴电缆)
CV500-SLK11,(光纤型)
大型PLC
(SYSBUS远程I/O单元)(CVM1D系列PLC) C500-RM/RT
实现了在省配线的情况下,PC同控制器或元件间的通信,最适宜于必须从远距离本体的位置作输入输出处理等规模大、控制分散的场合。
可选用SYSBUS光缆系统或SYSBUS线缆系统、连接远程I/O主站和I/O链接单元,可以同多个PC接收或发送情报。
C500-RM型号有:
C500-RM201,(线缆型 主站/从站)
C500-RM001,(光缆型 主站/从站)
C500-RT型号有:
C500-RT201,(线缆型 主站/从站)
C500-RT002,(光缆型 主站/从站)
大型PLC
(PID控制单元)(CVM1D系列PLC) C500-PID01
取入模拟输入信号,对各种控制器进行最适宜的PID控制,本单元配备以下各项功能
-定标功能
-自动调谐功能
-开闭运算功能
-上下限警报输出
-输入/输出范围:1-5V,4-20mA
-分辨率:1/4095
输入1点/输出1点
大型PLC
(Ethernet单元)(CVM1D系列PLC) CV500-ETN01
CV 以太网单元,配备了世界标准的TCP/IP及 VDP/IP。
不经由个人计算机也可把PC接入以太网,由于支持文件传送
通信协议(FTP),能在上位的主计算机和PC之间
进行以文件为单位的接收与传送、FINS指令能从以太网上的主计算机读出/写入PC存储内容。
此外,还配备了使可靠性更向上的RAS功能等。
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3HQ-CT11
型号: E3HQ-CT11.
检测方式:对射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离:800mm.
动作模式:入光时ON.
优质耐油·耐化学药品性优越的特氟龙 保护 (氟素树脂)
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3HQ-CT12
型号: E3HQ-CT12.
检测方式:对射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离:800mm.
动作模式:遮光时ON.
优质耐油·耐化学药品性优越的特氟龙 保护 (氟素树脂)
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3S-LS3N
型号: E3S-LS3N .
检测方式:限定反射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离: 20 - 35mm.
功能型:无.
型号:NPN输出, 稳定检测 不受孔及切口的影响
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3S-LS3NT
型号: E3S-LS3NT .
检测方式:限定反射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离: 20 - 35mm.
功能型:有.
型号:NPN输出, 稳定检测 不受孔及切口的影响
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3S-LS3NW
型号: E3S-LS3NW .
检测方式:限定反射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离: 10 - 60mm.
功能型:无.
型号:NPN输出, 稳定检测 不受孔及切口的影响
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3S-LS3NWT
型号: E3S-LS3NWT .
检测方式:限定反射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离: 10 - 60mm.
功能型:有.
型号:NPN输出, 稳定检测 不受孔及切口的影响
光电传感器(用途分类)
光电传感器 (用途分类) E3S-LS3P
型号: E3S-LS3P.
检测方式:限定反射型 .
连接方式:导线引出式.
检测距离: 20 - 35mm.
功能型:无.
型号:PNP输出, 稳定检测 不受孔及切口的影响
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